.:Надежность памяти ЭВМ:.
ЗУ являются сложными изделиями вычислительной техники. Для их построения в значительной степени используются элементы той же технологии и
аналогичного конструктивного исполнения, что и для других устройств ЭВМ, поэтому для них характерны те же причины и виды отказов, что и для других устройств
ЭВМ. Однако специфика выполняемых функций, особенности запоминающей среды и организации ЗУ обуславливают специфические причины и виды отказов.

Под отказом будем понимать устойчивое нарушение работоспособности ЗУ или его элемента. Сбой — нарушение работоспособности, которое устраняется само
или оператором без проведения ремонта. Ошибка — это искажение хранимого или считанного из ЗУ слова под воздействием отказа или сбоя.

Особенностью выполняемых ЗУ функций является то, что они предназначены для хранения информации, в то время как другие устройства ЭВМ и
нформацию обрабатывают (преобразуют) и осуществляют ее ввод и вывод. Интервал времени между записью и воспроизведением информации, в течение которого
к данной области ЗУ обращения отсутствуют, может быть значительным, и при отказах или сбоях бывает невозможно восстановить исходные данные. Кроме
этого, хранящиеся данные являются исходным материалом для обработки другими устройствами ЭВМ и их искажение вызывает неправильную работу ЭВМ в це-
лом. Что касается устройств обработки и ввода-вывода данных,то выполняемые ими операции в большинстве случаев могут быть повторены, а ошибка
обнаружена и, если она случайная, исправлена. Поэтому значимость отказов или сбоев ЗУ может быть более высокой, чем для других устройств ЭВМ.

Рассмотрим влияние организации ЗУ на ошибки в считанной информации. Все ЗУ в зависимости от организации можно условно разбить на две большие
группы: ЗУ с произвольной выборкой и ЗУ с последовательной и произвольно-последовательной выборкой. В ЗУ с произвольной выборкой схемы дешифра-
ции обеспечивают выбор любого слова данных. К таким ЗУ относятся полупроводниковые интегральные ЗУ и ЗУ на ФС. В них возможны как однобитовые ошибки
из-за отказов ЗЭ, так и пакетные ошибки, когда из-за отказов схем выборки и управления искажается информация в группе соседних разрядов считанного слова.

В ЗУ с последовательной и произвольно-последовательной выборкой (ЗУ на магнитных носителях, ЦМД ЗУ) для хранения данных используются участки
магнитной поверхности. Вследствие высокой плотности размещения хранимых данных дефекты запоминающей среды или взаимовлияние элементов
приводят к ошибкам нескольких соседних бит, т.е. пакетным ошибкам. Для таких ЗУ характерны пакетные ошибки в считанных данных.

.:Причины и послдствия сбоев ЗУ:.
Характерные для ЗУ причины сбоев и их влияние на хранимую в ЗУ информацию показаны в следуюхей таблице:

Тип ЗУ Причины сбоев Последствия сбоев

ОЗУ динамические Воздействие альфачастиц, стекание заряда Ошибки в хранимых данных

ОЗУ статические Влияние невыбранных ЗЭ на выбранные Изменение времени выборки
биполярные

ПЗУ с нихромовыми Восстановление перемычек Ошибки в хранимых данных
перемычками

ЗУ на МНОП и МОП Стекание заряда То же
ПЗ

ЦМД ЗУ Взаимовлияние доменов То же

Электромеханические Взаимовлияние считанных сигналов Ошибки в считанных данных
ЗУ на магнитных носи-
телях

Изменение (увеличение) времени выборки биполярных ОЗУ и искажения вследствие взаимовлияния считанных сигналов в ЗУ на магнитных носителях могут быть
устранены повторным считыванием данных. Остальные искажения устраняются перезаписью исправленной информации. Зависимость положения границ
области устойчивой работы (ОУР) запоминающего устройства от характера хранимой информации и адресной последовательности при обращении к ЗУ является
причиной сбоев при «тяжелых» последовательностях адресов и данных.